2009年度

論文

  1. Peter Krogstrup, Jun Yamasaki, Claus B. Sorensen, Erik Johnson, Jakob B. Wagner, Robert Pennington, Martin Aagesen, Nobuo Tanaka, Jesper Nygard,
    "Junctions in Axial III-V Heterostructure Nanowires Obtained via an Interchange of Group III Elements",
    Nano Letter, 2009, Vol.9, No.11, 3689-3693
  2. Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai, and Nobuo Tanaka,
    "Annealing Behavior of La2O3 Thin Film Deposited on Si (001) Substrate
    Studied by Spherical Aberration Corrected TEM/STEM"
    Trans. MRS-J, 34 (2), 297-300 (2009).
  3. U. Mizutani, T. Yamaguchi, T. Tomofuji, Y. Yanagi, Y. Itoh, K. Saitoh, N. Tanaka, N. Matsunami, and H. Ikuta
    "Factors Affecting Extreme Ultraviolet Reflectivity of Mo/Si Multilayer Films Synthesized by Superconducting Magnetron Sputtering",
    Jpn. J. Appl. Phys., 48, 025507-1-6 (2009).

著書・解説等

  • 著書
    1. 田中信夫(単著),「電子線ナノイメージング」, 全247頁、2009年4月、内田老鶴圃
  • 解説
    1. 田中信夫 "PETROTECH",
      石油学会 32(4) (2009), 292-296
    2. 山崎 順, 田中信夫, 森下茂幸「回折顕微法による原子配列構造の可視化 －制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生－」
      金属学会会報「まてりあ」48(12) (2009) 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」: p.604.
    3. 齋藤 晃, 田中信夫, 村上大樹 「収束電子回折法によるAl72Ni20Co8デカゴナル準結晶の構造精密化」
      金属学会会報「まてりあ」48(12) (2009) 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」: p.605.

国際会議

  • 招待講演
    1. N. Tanaka,
      "New environmental HVEM in Nagoya University",
      The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 28 September - 2 October 2009, Huis ten bosch, Nagasaki.
    2. J.Yamasaki, S.Morishita, and N.Tanaka,
      "High-resolution imaging and structure analysis by using aberration-corrected electron diffraction",
      The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 28 September - 2 October 2009, Huis ten bosch, Nagasaki.
  • 一般公演
    1. J. Yamasaki, S. Morishita, N. Tanaka, A. Hirata, Y. Hirotsu, and T. Kato,
      "Analysis of Crystalline Nano Structures Embedded in Amorphous Films by Selected Area Nano Diffraction in a Cs-corrected TEM",
      Microscopy & Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA.
    2. S. Inamoto, J. Yamasaki, E. Okunishi, K. Kakushima, H. Iwai, and N. Tanaka,
      "Spherical Aberration Corrected TEM/STEM Analysis of La2O3 Thin Film Deposited on Si (001) Substrate",
      Microscopy & Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA.
    3. S. Morishita, J. Yamasaki, K. Nakamura, T. Kato, and N. Tanaka,
      "Reconstruction of atomic columns in silicon by electron diffractive imaging",
      Microscopy & Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA.

国内学会

  • 招待講演
    1. 田中 信夫
      「電子線を用いた究極の微細構造観察と評価」
      VBLシンポジウム, 2009年11月10日, 名古屋大学
    2. 田中信夫,吉田健太, 末田昇吾,杉浦寛人
      「極低温３次元電子顕微鏡を用いたナノ材料の定量解析」
      TEM最新技術セミナー(第96回RICEセミナー)～3Dイメージング、見方を変えて考える～, 2009年11月19日,産業技術総合研究所 関西センター
  • 一般講演
    1. 齋藤 晃, 多々良 美秀, 田中 信夫
      「収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    2. 森下 茂幸, 山崎 順, 中村 圭介, 加藤 丈晴, 田中 信夫
      「電子回折顕微鏡法によるサブオングストローム分解能観察の可能性」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    3. 濱邊 麻衣子, 齋藤 晃, 田中 信夫
      「HOLZ線図形の多点自動解析による二次元歪みマッピング」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    4. 稲元 伸, 山崎 順, 奥西 栄治, 角嶋 邦之, 田中 信夫
      「収差補正TEM/STEMを用いたLa2O3/Si界面ラフネスの精密解析」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    5. 山崎 順, 玉置 央和, 田中 信夫
      「収差補正TEM像における焦点基準位置の検討」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    6. 黒島 光, 山崎 順, 田中 信夫
      「収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    7. 藤林 裕明, 趙 星彪, 田中 信夫
      「UHV in-situ TEMによる極薄Si酸化膜付Si基板上に成長するGeナノドットの歪み評価」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    8. 村上 大樹, 齋藤 晃, 蔡安邦, 田中 信夫
      「収束電子回折法によるAl72Ni20Co8デカゴナル準結晶の構造精密化Ⅳ」
      日本物理学会 第64回年次大会, 2009年3月27日～3月30日, 立教大学 立教池袋中学・高校
    9. 山崎 順, 玉置 央和, 田中 信夫
      「収差補正TEM観察における正焦点位置の検討」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    10. 濱邊 麻衣子, 齋藤 晃, 田中 信夫
      「CBED法をもちいた格子湾曲を含むSiGe/Si界面近傍の二次元格子歪み解析」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    11. 齋藤 晃, 多々良 美秀, 田中 信夫
      「収差補正収束電子プローブをもちいた菊池バンドのプローブ位置依存性の観察」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    12. 村上 大樹, 齋藤 晃, 田中 信夫, 蔡安邦
      「収束電子回折法によるAl72Ni20Co8デカゴナル準結晶の構造精密化2」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    13. 末田 昇吾, 吉田 健太, 田中 信夫
      「ナノ構造体3次元形態解析のための定量アルゴリズム開発」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    14. 趙 星彪, 藤林 裕明, 田中 信夫
      「In-situ HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの歪み変化と成長に関する研究」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    15. 森下 茂幸, 山崎 順, 加藤 丈晴, 田中 信夫
      「電子回折顕微法における再生波動場の精度及び分解能向上への取り組み」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    16. 山崎 順, 黒島 光, 田中 信夫
      「非晶質カーボン膜中白金原子の運動の収差補正HAADF-STEM観察」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    17. 近藤 悠史, 吉田 健太, 田中 信夫
      「エネルギーフィルターTEM法を用いたNiO薄膜上のFe微粒子の空間分布測定と磁性評価」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    18. 齋藤 晃, 桃井 浩太, 田中 信夫
      「内殻励起非弾性散乱をもちいたMgB2の電子構造の異方性の研究」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    19. 稲元 伸, 山崎 順, 玉置 央和, 田中 信夫
      「収差補正TEMを用いた3C-SiC(100)界面の原子配列構造解析」
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会, 2009年5月26日～5月29日, 仙台国際センター
    20. 山崎順，黒島光，田中信夫
      「収差補正HAADF-STEM を用いたアモルファスカーボン膜内部での白金単原子の運動解析」
      第70回応用物理学会学術講演会, 2009年9月10日, 富山大学
    21. 玉置 央和, 稲元 伸, 山崎 順, 田中 信夫
      「収差補正TEMと偽像除去法を用いた3C-SiC/Si(100)界面の原子配列構造解析」
      第70回応用物理学会学術講演会, 2009年9月10日, 富山大学
    22. 稲元 伸, 山崎 順,玉置 央和, 田中 信夫
      「収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析」
      日本物理学会第64回秋季大会, 2009年9月25日～9月28日, 熊本大学
    23. 濱邊 麻衣子, 齋藤 晃, 森下 茂幸, 山崎 順, 田中 信夫
      「HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析」
      日本物理学会第64回秋季大会, 2009年9月25日～9月28日, 熊本大学
    24. 桃井 浩太, 齋藤 晃, 田中 信夫
      「MgB2のB-K殻励起をともなう電子線非弾性散乱の異方性の観察」
      日本物理学会第64回秋季大会, 2009年9月25日～9月28日, 熊本大学
    25. 稲元伸、山崎順、玉置央和、岡崎一行、田中信夫
      「収差補正透過型電子顕微鏡を用いた3C-SiC/Si(100)界面の三次元原子配列構造解析」
      シリコンカーバイド（SiC)及び関連ワイドギャップ半導体研究会第18回講演会,2009年12月17日～18日、神戸国際会議場

受賞

  1. S. Morishita, J. Yamasaki, K. Nakamura, T. Kato, and N. Tanaka,
    MAS Distinguished Scholar Award,
    "Reconstruction of atomic columns in silicon by electron diffractive imaging",
    Microscopy & Microanalysis 2009, 27 July 2009, Richmond, Virginia, USA.
  2. 森下茂幸，
    材料バックキャストテクノロジー研究センター 平成２１年度 若手研究奨励賞，11月30日．

その他

  • 特許
    1. 新聞発表等
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