2008年度

論文

  1. J. Yamasaki, T. Kawai, Y. Kondo, and Tanaka:
    "A practical solution for eliminating artificial image contrast in aberration-corrected TEM."
    Microscopy and Microanalysis, 14(1): 27-35.
  2. Tanaka.N ,Cho, S.P., Shklyaev, A.A., Yamasaki, J., Okunishi, E., Ichikawa, M.
    "Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO2 coverage,"
    Applied Surface Science 254 (2008) 7569-7572
  3. Tanaka.N,
    "Present status and future prospects of spherical aberration corrected TEM/STEM for study of nanomaterials,"
    SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS Volume: 9 Issue: 1, Article Number: 014111 Published: JAN-MAR 2008
  4. Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki, Keisuke Nakamura, Takeharu Kato, and Tanaka.N
    "Diffractive imaging of the dumbbell structure in silicon by spherical-aberration-corrected electron diffraction",
    Applied Physics Letters 93 (2008), 183103
  5. Cho SP, Kawano S, Tanaka.N
    "In situ monitoring of nucleation and evolution of Ge nanodots on faintly oxidized Si(111) surfaces"
    APPLIED SURFACE SCIENCE Volume: 254 Issue: 23 Pages: 7868-7871 Published: SEP 30 2008
  6. Nakamura Y, Masada A, Cho SP, Tanaka.N, Ichikawa M
    "Epitaxial growth of ultrahigh density Ge1-xSnx quantum dots on Si(111) substrates by codeposition of Ge and Sn on ultrathin SiO2 films"
    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Volume: 102, Issue: 12, Article Number: 124302 Published: DEC 15 2007
  7. Ichikawa M, Uchida S, Shklyaev AA, Nakamura Y, Cho SP, Tanaka.N
    "Characterization of semiconductor nanostructures formed by using ultrathin Si oxide technology"
    APPLIED SURFACE SCIENCE Volume: 255 Issue: 3 Pages: 669-671 Published: NOV 30 2008
  8. K. Saitoh, H. Murakami and N. Tanaka,
    "Structure refinement of a decagonal quasicrystal of Al72Ni20Co8 by convergent-beam electron diffraction"
    Z. Kristallogr., 223, 859 - 862, (2008).

著書・解説等

  • 著書
    1. Nobuo Tanaka,
      "Spherical Aberration-Corrected Tranismission Electron Microscopy for Nanomaterials",
      Chapter 10 (pp.385 - 437) in "Aberration-corrected Electron Microscopy",
      Advances in Imaging and Electron Physics, Vol.153 (2008) edited by Peter W. Hawkes, Elsevier Academic Press.
    2. 田中信夫(共著),「ナノイメージング」,NTS,2008年,3-2章執筆
  • 解説
    1. 田中信夫：「高分解能電子顕微鏡法の基礎と収差補正」
      日本金属学会誌、78（2008）424－428
    2. 田中信夫：「収差補正技術のあゆみ」
      日本金属、78（2008）429－429
    3. 田中信夫・山崎 順・齋藤 晃：「球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用」
      真空, 2008 VOL.51 NO.11, 695-699
    4. 田中信夫：「球面収差補正TEM/STEMの特徴とその応用」
      東レリサーチセンター The TRC News No.105 (Oct.2008) 4-

国際会議

  • 招待講演
    1. Tanaka.N
      "Advanced Electron Microscopic Characterization in Nano-Materials Science"
      Stockholm University, 7th EMC seminar, March 3, 2008
    2. Tanaka.N
      "Advanced Electron Microscopy of Photocatalytic Materials"
      Remote Electron Microscopy for In Situ Studies, Stanford University, March 31 - April 1, 2008
    3. Tanaka.N
      "Roles of advanced electron microscopy for nano-materials science"
      Remote Electron Microscopy for In Situ Studies, Stanford University, March 31 - April 1, 2008
    4. Koh Saitoh, Tadahiro Yokosawa, and An Pang Tsai
      "Unique symmetry of Cd-based icosahedral quasicrystals revealed by convergent-beam electron diffraction",
      10th International Conference on Quasicrystals, July 6-11,2008
  • 一般公演
    1. Tanaka.N, S.-P. Cho, A.A. Shklyaev, J. Yamasaki, E. Okunishi, and M. Ichikawa
      "Studies of Ge Quantum Dots on Slightly Oxidized Si(011) Surfaces by Cs-corrected TEM/STEM",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    2. K. Saitoh, Y. Yasuda and Tanaka.N
      "Automated Lattice-Parameter Determination by Using HOLZ Line Patterns",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    3. K. Saitoh, K. Nagasaka and Tanaka.N
      "Observation of the Three-Dimentional q-Dependance of Inelastic Scattering Cross-Section of the K-shell Excitation of Graphite",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    4. Jun Yamasaki, Hirokazu Tamaki, Tomoyuki Kawai, Yusi Kondo, and Tanaka.N
      "A Practical Solution for Elimination of Artificial Image Contrast in Cs-corrected TEM",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    5. K. Yoshida, S. Sueda, T.Hirayama, S.Tanemura, T.Torimoto, and Tanaka.N
      "Quantitative Electron Tomography of Size-controlled Metallic Nanodots on Sintered Titania Photocatalysts",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    6. Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai, Tanaka.N
      "Cs-corrected TEM/STEM Analysis of La2O3/Si (001)",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    7. Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki, Keisuke Nakamura, Takeharu Kato, and Tanaka.N
      "A novel reconstruction technique for electron exit wave fields by a combinaiton of diffractive imaging and selected area nano diffraction",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    8. Hiroki Murakami, Koh Saitoh, Tanaka.N, An Pang Tsai
      "Structure Refinement of a Decagonal Al72Ni20Co8 Quasicrystal by using Convergent-Beam Electron Diffraction",
      The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC 1)
    9. Hiroki Murakami, Koh Saitoh, Tanaka.N, An Pang Tsai
      "Structure Refinement of a Decagonal Al72Ni20Co8 Quasicrystal by using Convergent-Beam Electron Diffraction",
      10th International Conference on Quasicrystals, July 6-11,2008
    10. Cs-corrected STEM Studies of Ge Nanodots Grown on Slightly Oxidized Si(001) Surfaces;
      N Tanaka, S-P Cho, AA Shklyaev
      Microscopy & Microanalysis 2008, Albuquerque, New Mexico, USA
    11. Quantitative STEM Tomography for Size-controlled Metallic Nanodots on Sintered Titania Photocatalysts;
      K Yoshida, L Miao, T Hirayama, S Tanemura
      Microscopy & Microanalysis 2008, Albuquerque, New Mexico, USA
    12. Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki, Keisuke Nakamura, Takeharu Kato, Tanaka.N
      "Image reconstruction by a combination of diffractive imaging and selected area nano diffraction",
      XXI Congress of the International Union of Crystallography (IUCr2008),
      23-31 August 2008, Osaka, Japan
    13. Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki, Keisuke Nakamura, Takeharu Kato and Tanaka.N
      "Reconstruction of the dumbbell structure in silicon by electron diffractive imaging using selected area nano diffraction"
      IUCr 2008 Satellite Meeting -Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction-,
      1-2 September 2008, Nagoya, Japan
    14. Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai and Tanaka.N
      "Analysis of a La2O3 thin film deposited on Si(001) substrate by Cs-corrected TEM/STEM"
      IUCr 2008 Satellite Meeting -Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction-,
      1-2 September 2008, Nagoya, Japan
    15. Jun Yamasaki, Hirokazu Tamaki, Tomoyuki Kawai, Yusi Kondo and Tanaka.N
      "Practical Solution for Artifical Image Contrast in HARTEM images by using a Cs-corrected TEM"
      IUCr 2008 Satellite Meeting -Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction-,
      1-2 September 2008, Nagoya, Japan
    16. Hiroki Murakami, Koh Saitoh, Tanaka.N and An Pang Tsai
      "Structure Refinement of a Decagonal Al72Ni20Co8 Quasicrystal by using Convergent-Beam Electron Diffraction"
      IUCr 2008 Satellite Meeting -Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction-,
      1-2 September 2008, Nagoya, Japan
    17. Maiko Hamabe, Koh Saitoh and Tanaka.N
      "A method for the determination of a bending strain of a lattice by CBED"
      IUCr 2008 Satellite Meeting -Development of Advanced Instruments for New Electron Microscopy and Diffraction-,
      1-2 September 2008, Nagoya, Japan
    18. Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai and Tanaka.N
      "Annealing Behavior Of La2O3 Thin Film Deposited On Si(001) Substrate Studied By Spherical Aberration Corrected TEM/STEM"
      IUMRS-ICA 2008 The IUMRS International Conference in Asia 2008
      December 9-13 2008, Nagoya, Japan

国内学会

  • 招待講演
    1. 山崎 順、田中信夫
      「収差補正TEMにおける高分解能結像と偽像処理法」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会、2008年5月21日～23日、京都
    2. Jun Yamasaki
      「Advanced high-resolution imaging and diffraction by using a Cs-corrected TEM」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会、2008年5月21日～23日、京都
    3. 山崎順
      「収差補正TEMを用いた制限視野回折顕微法による高分解能イメージング」
      日本顕微鏡学会第５２回シンポジウム,2008年10月17,18日, 千葉大学
  • 一般講演
    1. 永坂 圭佑, 齋藤 晃, 田中 信夫,
      「酸化物高温超伝導体Bi2Sr2CaCu2O8のCu-L殻励起をともなう異方的非弾性散乱図形の観察」
      日本物理学会 第63回年次大会3月22日～3月26日,近畿大学,
    2. 齋藤 晃, 安田 佳史, 濱邊 麻衣子, 田中 信夫,
      「分裂したHOLZ線を含むCBED図形の解析による格子歪み計測法の研究」
      日本物理学会 第63回年次大会3月22日～3月26日,近畿大学,
    3. 吉田健太，苗 蕾，種村 榮，野崎 勉，鳥本 司，田中信夫
      「殺菌塗装材への応用を目指した白金担持酸化チタン光触媒の大量合成」
      第55回 応用物理学関係連合講演会,千葉大学, 2008年3月
    4. 野崎 勉，大槻周佑，吉田健太，鳥本 司，田中信夫
      「二相系溶媒中光電析法を用いた金属ナノ粒子の担持法」
      第55回 応用物理学関係連合講演会,千葉大学, 2008年3月
    5. 森下茂幸，山崎順，中村圭介，加藤丈晴，田中信夫，
      「球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定」
      日本物理学会 第63回年次大会3月22日～3月26日,近畿大学,
    6. 村上大樹, 齋藤 晃, 田中信夫, 蔡安邦,
      「収束電子回折法によるAl72Ni20Co8デカゴナル準結晶の構造精密化Ⅱ」,
      日本物理学会2007年春季大会、2008年3月28日,
    7. 藤林裕明，趙星彪，田中信夫
      「Geometric Phase Method による局所的な歪み解析の評価」
      日本物理学会2007年春季大会、2008年3月28日,
    8. 近藤 悠史, 吉田 健太, 田中 信夫
      「EF-TEM法を用いたNiO薄膜上のFe微粒子の空間分布測定法」
      第55回応用物理学関係連合講演会、2008年3月27～30日、千葉（日大）
    9. 山崎 順, 稲元 伸, 奥西 栄治, 角嶋 邦之, 岩井 洋, 田中 信夫
      「収差補正電子顕微鏡を用いたSi(001)基板上La酸化物薄膜の解析」
      第55回応用物理学関係連合講演会、2008年3月27～30日、千葉（日大）
    10. 稲元 伸, 山崎 順, 奥西 栄治, 角嶋 邦之, 岩井 洋, 田中 信夫
      「収差補正電子顕微鏡によるLa2O3/Si(011)界面反応の解析」
      第55回応用物理学関係連合講演会、2008年3月27～30日、千葉（日大）
    11. 末田昇吾,吉田健太,野崎勉,田中信夫、
      「HAADF-STEMトモグラフィーによる金属担持酸化チタンの3次元解析」、
      第55回応用物理学関係連合講演会、2008年3月27～30日、千葉（日大）
    12. 齋藤 晃, 濱邊 麻衣子, 田中 信夫,
      「分裂したHOLZ線を含むCBED図形の解析による湾曲格子歪み計測法の研究」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    13. 齋藤 晃, 永坂 圭佑, 田中 信夫,
      「Bi系酸化物高温超伝導体のCu-L殻励起をともなう異方的非弾性散乱図形の観察」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    14. 山崎 順, 森下 茂幸, 平田 秋彦, 弘津 禎彦, 長谷川 正, 加藤 秀実, 加藤 丈晴, 田中 信夫
      「収差補正制限視野ナノ回折を用いた金属ガラスの局所構造解析」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    15. 稲元伸，山崎順，奥西栄治，角嶋邦之，岩井洋，田中信夫,
      「収差補正TEM/STEMによるLa2O3/Si(001)界面の精密解析」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    16. 森下茂幸，山崎順，中村圭介，加藤丈晴，田中信夫，
      「球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場の測定」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    17. 森下茂幸，山崎順，中村圭介，加藤丈晴，田中信夫，
      「制限視野ナノ回折法を用いた回折顕微法による結晶Siの原子配列構造の再生」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    18. 藤林裕明，趙星彪，田中信夫
      「極薄酸化膜付Si基板上に成長したGeナノドットに含まれる歪み分布の定量的評価」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    19. 丸山雄大、吉田健太、乗松航、楠美智子
      「SiドープCNT配向膜の作製とTEMによる構造・組成評価」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    20. 吉田健太、平山司、種村栄、鳥本司、田中信夫
      「殺菌塗装剤への応用を目指した白金担持酸化チタン光触媒の大量合成」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    21. 吉田健太、末田省吾、平山司、苗蕾、齋藤晃、田中信夫
      「STEMトモグラフィによる金属担持酸化チタンの三次元構造解析」
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会 5月21日～5月23日，国立京都国際会館,
    22. 村上大樹, 齋藤 晃, 田中信夫, 蔡安邦,
      「収束電子回折法によるAl72Ni20Co8デカゴナル準結晶の構造精密化」,
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会、2008年5月21日～23日、京都
    23. 近藤悠史，吉田健太，田中信夫
      「エネルギーフィルターTEM法を用いたNiO薄膜上のFe微粒子のサイズ分布測定」
      第68回応用物理学会学術講演会, 2008年9月, 中部大学
    24. 末田昇吾，吉田健太，田中信夫
      「微結晶試料の3次元形態を定量するための解析アルゴリズム」
      第68回応用物理学会学術講演会, 2008年9月, 中部大学

受賞

  1. Shigeyuki Morishita,
    Prize for the Best Poster from Students at the XXI Congress of the International Union of Crystallography,
    "Image reconstruction by a combination of diffractive imaging and selected area nano diffraction",
    23-31 August 2008, Osaka, Japan

その他

  • 特許
    1. 新聞発表等
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