Development of
Nano-Characterization
Methods Using
Innovative Electron Beams
Development of
Nano-Characterization
Methods Using
Innovative Electron Beams
Research
本研究グループでは、電子ビームを扱った研究を行っています。
電子は可視光に比べて波長が短く(λ~10-12 m)、電子ビームを用いた電子顕微鏡は光学顕微鏡では見ることの難しい、ナノメートルスケールのものを見ることができます。また、電子顕微鏡は「拡大して見る」だけではなく元素分析や電子構造の解析、結晶構造の解析をすることもできます。
これまでに、半導体、磁性体、強相関電子系、準結晶、金属微粒子など多様な物質の解析や電子顕微鏡に応用する革新的な電子ビームの生成、新しい電子顕微鏡の開発に関する研究を行ってきました。
最近では、電子らせん波のイメージングへの応用、偏極電子ビームを用いた透過型電子顕微鏡の開発、動的変化を観測する超時間分解能透過型電子顕微鏡の開発を行っています。
桑原真人先生が未来材料・システム研究所の教授にご昇進されました。益々のご活躍をお祈り申し上げます。
玉置央和さん(連名:齋藤晃教授)が、「日本物理学会学生優秀発表賞」を受賞されました。(2023/10/14)
カナダ・トロント大学のミラー教授(R. J. Dwayne Miller, Professor, Chemistry and Physics, University of Toronto)が、齋藤研究室を訪問されました。(2023/0921)
石田 高史助教が”The Japanese Society of Microscopy Award for the Scientific Paper(FUNDAMENTALS) in 2023”を受賞されました。(2023/06/27)