Development of
Nano-Characterization
Methods Using
Innovative Electron Beams
Development of
Nano-Characterization
Methods Using
Innovative Electron Beams
Research
本研究グループでは、電子ビームを扱った研究を行っています。
電子は可視光に比べて波長が短く(λ~10-12 m)、電子ビームを用いた電子顕微鏡は光学顕微鏡では見ることの難しい、ナノメートルスケールのものを見ることができます。また、電子顕微鏡は「拡大して見る」だけではなく元素分析や電子構造の解析、結晶構造の解析をすることもできます。
これまでに、半導体、磁性体、強相関電子系、準結晶、金属微粒子など多様な物質の解析や電子顕微鏡に応用する革新的な電子ビームの生成、新しい電子顕微鏡の開発に関する研究を行ってきました。
最近では、電子らせん波のイメージングへの応用、偏極電子ビームを用いた透過型電子顕微鏡の開発、動的変化を観測する超時間分解能透過型電子顕微鏡の開発を行っています。
石田 高史助教授が第十六回(令和4年度)風戸研究奨励賞を受賞されました。(2023/03/05)
桑原 真人准教授ら研究グループと日立製作所・東邦大学・日立ハイテクとの共同研究「100 kV時間分解電子顕微鏡を開発し、ナノ粒子における表面プラズモンの光励起緩和過程をピコ秒オーダーで観察することに成功」についてプレスリリースが発信されました。(2022/10/14)
桑原 真人准教授が、第十五回(令和3年度)風戸賞を受賞されました。(2022/03/05)
桑原 真人准教授が、東工大・筑波大学との共同研究「光励起で起きる10兆分の1秒以下の構造を観測するテーブルトップサイズ電子回折装置を世界で初めて開発に成功」の結果についてプレスリリースが発信されました。(2022/06/02)