2010年度

論文

  1. Yong Liu, Chun-Jiang Jia, Jun Yamasaki, Osamu Terasaki, and Ferdi Schuth
    "Highly Active Iron Oxide Supported Gold Catalysts for CO Oxidation:
    How Small Must the Gold Nanoparticles Be?"
    Angewandte Chemie International Edition, 49 (2010) 5771-5775.
  2. Shin Inamoto, Jun Yamasaki, Eiji Okunishi, Kuniyuki Kakushima, Hiroshi Iwai, and Nobuo Tanaka
    "Annealing effects on a high-K lanthanum oxide film on Si (001) analyzed by aberration-corrected
    transmission electron microscopy/scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy"
    Journal of Applied Physics, 107 (2010) 124510, 10pages.
  3. M. Kuwahara, T. Kutsuwa, K. Ono, H. Kosaka
    "Single charge detection of an electon created by a photon in a g-factor engineered quantum dot"
    Appl. Phys. Lett. 96 (2010) 163107.
  4. K. Saitoh, Y. Yasuda, M. Hamabe and N. Tanaka
    "Automated characterization of bending and expansion of a lattice of a Si substrate near a SiGe/Si interface by using split HOLZ line patterns"
    J. Electron Microsc., 59, 367-378 (2010).
  5. K. Saitoh, Y. Tatara and N. Tanaka
    "Atom-column distinction by Kikuchi pattern observed by an aberration-corrected convergent electron probe"
    J. Electron Microsc., 59, 387-394 (2010).
  6. R. A. Herring, K. Saitoh, N. Tanaka and T. Tanji
    "Coherent electron interference from amorphous TEM specimens"
    J. Electron Microsc., 59, 321-330 (2010).

著書・解説等

  • 著書
  • 解説

国際会議

  • 招待講演
    1. N. Tanaka,
      "In-situ TEM/STEM Observation of Photocatalytic Reactions of Titanium Oxide Materials",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    2. N. Tanaka,
      "Spherical aberration corrected HRTEM of nano interfaces of semiconductors"
      The 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials , 27 June - 2 July, 2010, Sima, Mie.
    3. N. Tanaka, S. Sueda, K. Yoshida,
      "Advanced and In-situ TEM/STEM of Functional Small Particles on Titanium Oxide Materials"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    4. J. Yamasaki , A. Hirata , Y. Hirotsu, N. Tanaka,
      "Imaging and Diffraction Analysis of Medium Range Order Embedded in Amorphous Films by aberration-corrected TEM"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    5. M. Kuwahara, M. Yamamoto, X. G. Jin, T. Ujihara, T. Nakanishi, Y. Takeda,
      "Superlattice photocathode development for low emittance"
      Photocathode Physics for Photoinjectors, 12-14 October. 2010, NY, USA.
  • 一般公演
    1. J. Yamasaki, S. Morishita, and N. Tanaka,
      "Reconstruction of Crystalline Structures at 78 pmResolution by Electron Diffractive Imaging",
      COHERENCE 2010, 8-11 June 2010, Rostock-Warnemunde, Germany.
    2. S. Morishita, J. Yamasaki, and N. Tanaka,
      "Measurement of Wavefront Curvature and Spatial Coherenceof Electron Beams by Using a Small Aperture",
      COHERENCE 2010, 8-11 June 2010, Rostock-Warnemunde, Germany.
    3. Y. Ishibashi, H. Sugiura, K. Saitoh, and N. Tanaka,
      "Three Dimensional Reconstruction Method of Icosahedral Quasicrystals by Binary Discrete Tomography",
      11th International Conference on Quasicrystals, 13-18 June 2010, Sapporo.
    4. H. Nakahara, K. Saitoh, and N. Tanaka,
      "Determination of The Electron Density Distribution of The Decagonal Quasicrystal of Al72Ni20Co8 by Convergent-Beam Electron Diffraction",
      11th International Conference on Quasicrystals, 13-18 June 2010, Sapporo.
    5. K. Saitoh, Y. Yasuda, M. Hamabe, and N. Tanaka,
      "Automated Mapping of Lattice Parameters and Lattice Bending Strain Near a SiGe/Si Interface by Using Split HOLZ Lines Patterns",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    6. K. Saitoh, M. Hamabe, S. Morishita, J. Yamasaki, and N. Tanaka,
      "Determination of a Lattice Strain Field by Iterative Phase Retrieval of Rocking Curves of HOLZ Reflections",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    7. J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka,
      "Observations of Atomic Columns in Compounds by Image Subtraction & Deconvolution Processing of Aberration-Corrected HRTEM Images",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    8. K. Yoshida, E. D. Boyes, P. L. Gai, and N. Tanaka,
      "Quantitative Measurements of Porous Titania Photocatalysts by Advanced Electron Microscope",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    9. K. Yoshida, S. Sueda, and N. Tanaka,
      "Three-Dimensional Nanostructure of Size-controlled Metallic Nanodots on Sintered Titania Photocatalysts",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    10. S. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, K. Okazaki-Maeda, and N. Tanaka,
      "Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si (100) Interface Analyzed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and Ab Initio Calculations",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    11. S. Morishita, J. Yamasaki, T. Kato, and N. Tanaka,
      "Reconstruction of Crystalline Structures by Electron Diffractive Imaging",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    12. K. Momonoi, K. Saitoh, and N. Tanaka,
      "Observation of the Anisotropy of Inelastic Scattering Cross-Section of the Boron K-shell Excitation of MgB2",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    13. Y. Tatara, K. Saitoh, and N. Tanaka,
      "Observation of Anomalous Kikuchi Patterns by Column-by-Column CBED",
      The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 24-26 June 2010, Nagoya.
    14. J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, N. Tanaka,
      "Image Subtraction & Deconvolution Processing of Aberration-CorrectedHRTEM Images for Observations of Atomic Columns at Interfaces"
      The 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials, 27 June - 2 July, 2010, Sima, Mie.
    15. N. Tanaka, J. Usukura, M. Kusnoki, K. Kuroda, Y. Saito, T. Tanji, S. Muto, S. Arai,
      "Development of High-Voltage Electron Microscope for Reaction Science"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    16. N. Tanaka, T. Nakanishi, Y. Takeda, H. Asano, K. Saito, T. Ujihara, M. Kuwahara,
      "Development of a Spin-Polarized and Short-Pulsed Transmission Electron Microscope"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    17. K. Saitoh, M. Hamabe, S. Morishita, J. Yamasaki, N. Tanaka,
      "Determination of 3D Lattice Displacements of Strained Semiconductors by Convergent-Beam Electron Diffraction"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    18. K. Saitoh, K. Momonoi, N. Tanaka,
      "Observation of the Hole State Symmetry by Using Anisotropy of Inelastic Scattering Accompanied by Inner-Shell Excitation"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    19. J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, N. Tanaka,
      "Observations of Atomic Columns in Compounds by Image Subtraction & Deconvolution of Aberration-Corrected TEM Images"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    20. J. Yamasaki, S. Morishita, N. Tanaka,
      "Reconstruction of Crystalline Structures at 78 pm Resolution by Electron Diffractive Imaging"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    21. M. Kuwahara, T. Nakanishi, N. Tanaka, Y. Takeda, H. Asano, K. Saito, T. Ujihara,
      "Pulsed spin-polarized electron source toward a transmission electron microscope"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    22. K. Yoshida , H. Sugiura, N. Tanaka, L. Miao, M. J. Walsh,E. D. Boyes, P. L. Gai,
      "Advanced Synthesis of Size-controlled Metallic Nanoclusters on Titanium Oxide Using Ionic Liquids"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    23. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, K. Okazaki-Maeda , N. Tanaka,
      "Atomic Structure of a 3C-SiC/Si (100) Interface Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and Ab Initio Calculations"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    24. S. Morishita, J. Yamasaki, T. Kato,
      "Measurement of Wavefront Curvature and Spatial Coherence of Electron Beams by Using a Small Selected-Area Aperture"
      The 17th IFSM International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
    25. M. Kuwahara
      "Development of spin-polarized transmission microscope"
      Workshop on Sources of Polarized Leptons and High Brightness Electron Beam (PESP2010), 21-24 September 2010, Bonn, Germany.

国内学会

  • 招待講演
    1. 山崎順
      「収差補正TEMを用いた精密構造解析」
      日本顕微鏡学会 電顕技術開発若手研究部会 第1回ワークショップ,1月23日, ＪＦＣＣ
    2. 田中 信夫
      「次世代研究者によるシンポジウムによせて」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    3. 森下 茂幸
      「制限視野ナノ回折を用いた入射波動場測定と電子回折顕微法」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    4. 齋藤 晃
      「入射電子線と結晶の相互作用」
      日本顕微鏡学会 電顕技術開発若手研究部会 第2回ワークショップ, 2010年8月23日, 東京大学.
    5. 山崎 順
      「「分解能」について」
      日本顕微鏡学会 電顕技術開発若手研究部会 第2回ワークショップ, 2010年8月23日, 東京大学.
    6. 山崎 順
      「収差補正高分解能TEMを用いた原子直視観察技法と半導体界面構造解析」
      日本顕微鏡学会第５４回シンポジウム,2010年11月12日,金沢.
    7. 齋藤 晃
      「エネルギーフィルター電子顕微鏡をもちいいた結晶構造解析および電子軌道解析」
      日本結晶学会（創立60周年記念大会）, 2010年12月5日, 大阪大学.
  • 一般講演
    1. 森下茂幸，山崎順，田中信夫
      「電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響」，
      日本物理学会 第65回年次大会，2010年3月20-23日，岡山大学．
    2. 濱邊麻衣子，齋藤晃，森下茂幸，山崎順，田中信夫
      「HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み解析II」，
      日本物理学会 第65回年次大会，2010年3月20-23日，岡山大学．
    3. 田中 信夫, 中西 彊, 竹田 美和, 浅野 秀文, 斎藤 晃, 宇治原 徹, 桒原 真人
      「スピン偏極パルス透過電子顕微鏡の開発1」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    4. 田中 信夫, 臼倉 治郎, 楠 美智子, 黒田 光太郎, 斎藤 弥八, 丹司 敬義, 武藤 俊介, 荒井 重勇
      「反応科学超高圧電子顕微鏡の開発」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    5. 齋藤 晃, Herring Rodney, 丹司 敬義, 田中 信夫
      「電子線バイプリズムをもちいたアモルファス試料の回折波干渉の観察」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    6. 齋藤 晃, 濱邊 麻衣子, 森下 茂幸, 山崎 順, 田中 信夫
      HOLZ線ロッキングカーブの反復位相回復による格子湾曲変位場の再生
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    7. 山崎 順, 黒島 光, 田中 信夫
      「収差補正HAADF-STEMを用いたカーボン膜中での白金原子の運動の解析」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    8. 桒原 真人, 中西 彊, 田中 信夫, 竹田 美和, 浅野 秀文, 斎藤 晃, 宇治原 徹
      「スピン偏極パルスTEM用電子源の特性評価」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    9. 吉田 健太, 杉浦 寛人, 末田 昇吾, 田中 信夫
      「金属ナノクラスターの凝集過程その場観察のための新規定量解析法」,
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    10. 吉田 健太, 末田 昇吾, Pratibha L. Gai, 田中 信夫
      「Ptナノクラスターの凝集過程の収差補正HAADF-STEMその場観察」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    11. 吉田 健太, 田中 信夫, N.R. Shiju, D.R Brown, Edward D. Boyes, Pratibha L. Gai
      「W-Zr触媒の原子レベルその場電子顕微鏡観察と活性サイトの解明」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    12. 吉田 健太, 田中 信夫, Juan-Carlos Hernandez-Garrido, John Meurig Thomas,Edward D. Boyes, Paul A. Midgley, Pratibha L. Gai
      「Auナノクラスター触媒触媒の収差補正HAADF-STEM観察」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    13. 稲元 伸, 山崎 順, 玉置 央和, 岡崎 一行, 田中 信夫
      「収差補正TEM像と第一原理計算を用いた3C-SiC/Si（100）界面の原子構造精密化」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    14. 稲元 伸, 山崎 順, 田中 信夫
      「収差補正TEM/STEMを用いたhigh- k ゲート絶縁膜厚測定法」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    15. 森下 茂幸, 山崎 順, 加藤 丈晴, 田中 信夫
      「電子回折顕微法による78pm分解能の達成」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    16. 桃井 浩太, 齋藤 晃, 田中 信夫
      「Bi2Sr2CaCu2O8のO-K殻励起をともなう電子線非弾性散乱の異方性の観察」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    17. 杉浦 寛人, 吉田 健太, 田中 信夫
      「Pt担持TiO2のCryo-HAADF-STEMトモグラフィー法による定量解析」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    18. 多々良 美秀, 齋藤 晃, 田中 信夫
      「エネルギーフィルター電子回折法によるコアロス菊池図形の観察」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    19. 太田 圭祐, 山崎 順, 宮地 修平, 田中 信夫
      「ナノ粒子分散試料の全焦点STEM像合成」
      日本顕微鏡学会66回学術講演会，2010年5月23-26日，名古屋国際会議場．
    20. 齋藤晃, 濱邊麻衣子, 田中信夫
      "Automated Mapping of Lattice Parameters and Lattice Bending Strain near a SiGe/Si Interface by using Split HOLZ Lines Patterns"
      名古屋大学材料バックキャストテクノロジーシンポジウム 次世代グリーンビークルに向けた材料テクノロジーの展開2010, 2010年9月29日, 名古屋大学.
    21. 稲元伸, 山崎順, 玉置央和, 岡崎一行, 田中信夫
      「収差補正TEMを用いた3C-SiC/Si(100) 界面の3次元原子配列構造解析」
      名古屋大学材料バックキャストテクノロジーシンポジウム 次世代グリーンビークルに向けた材料テクノロジーの展開2010, 2010年9月29日, 名古屋大学.
    22. 山崎順

      「電子回折顕微法を用いた結晶原子配列の可視化」
      原子分解能ホログラフィー研究会ワークショップ，2010年11月13日，東北大学．

受賞

  1. S. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, K. Okazaki-Maeda, N. Tanaka,

    "Young Scientist Award",

    The 13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials , 27 June - 2 July, 2010, Sima, Mie.

その他

  • 特許
    1. 発明者：宇治原徹、原田俊太、市橋史郎、桑原真人
      名称：太陽光で励起された電子のエネルギー測定方法と測定装置
      出願番号：特願2012-285579
      出願日：2012年12月27日
      出願人：名古屋大学総長
  • 新聞発表等
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