2025年度

論文

著書・解説等

  • 著書
  • 解説

国際会議

  • 招待講演
  • 一般講演
  • その他(座長・司会など)

国内学会

  • 招待講演
  • 一般講演
    1. 玉置央和, 齋藤 晃
      構造化電子ビームを用いた波動場再構成における像歪みの影響と補正
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11,
      福岡国際会議場, 1A_IM-1_14
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    2. 玉置央和, 齋藤 晃
      構造化電子ビームを用いた波動場再構成法によるsub-nm深さ分解の検討
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 1A_IM-1_15
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    3. 玉置央和, 齋藤 晃
      全視野構造化照明をもちいたフレネルタイコグラフィによる電子波動場再構成
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 2A_SS-1_04
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    4. 土屋嘉之, 齋藤 晃
      電子線ロッキングカーブの位相回復による格子変位場解析の空間分解能向上
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3A_IM-1_21
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    5. 石田裕一, 石田高史, 桑原真人, 新井康夫, 齋藤 晃
      時間分解観察のための高速撮影可能な SOI 直接電子検出カメラの開発
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3B_IMB-1_20
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    6. 石井陽稀, 横尾恭真, 金井辰也, 出口和彦, Farid Labib, 田村隆治, 齋藤 晃
      高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型正20面体準結晶および近似結晶の四面体クラスターの揺らぎの観察
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3E_AM-1_14
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    7. 池田昂央, 植松直斗, 平井大悟郎, 竹中康司, 齋藤 晃
      ハイエントロピーアンチモン合金(RuRhPdIr)1-xPtxSbの短距離秩序構造
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3E_AM-1_27
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    8. 三浦大知, 宇佐美 怜, 竹延大志, 五十嵐 啓介, 佐藤岳志, 松本弘昭, 稲田博美, 齋藤 晃
      回転積層したMoS2をもちいた2次電子の脱出深さの測定
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, P3-08
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    9. 石田高史, 石田裕一, 桑原真人, 新井康夫
      透過電子顕微鏡を用いた積分型SOI-CMOSイメージセンサーの電子線検出性能の評価
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3B_IMB-1_21
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    10. 渡邉大地, 中根爽太, 石田高史, 桑原真人
      スピン偏極電子における動力学効果を含んだシミュレーション手法開発と 反強磁性ブラッグ散乱への応用
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, P2-73
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    11. 道家 荘太
      走査透過型電子顕微鏡を用いたPLD法で作製されたLaB6薄膜の観察
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, P1-24
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    • その他(座長・司会など)

      受賞

        1. Yoshiyuki Tsuchiya
          Three-dimensional Analysis of the Lattice Bending Strain by Iterative Phase Retrieval of Electron Rocking Curves
          M&M Student Scholar Award
          Presented on this 28th day of july, 2025
          関連HP
          賞状
        2. Hirokazu Tamaki and Koh Saitoh
          Measurement and correction of TEM image distortion using arbitrary samples
          The Japanese Society of Microscopy Award for the Scientific Paper  (FUNDAMENTALS) in 2025, 2025/6/10
          賞状

       

      その他

      • 特許
      • 新聞発表等