2025年度

論文

    1. Y.Ishida, T.Ishida, M.Kuwahara, Y.Arai, K.Saitoh
      Characterization of the INTPIX4 SOI pixel detector in transmission electron microscopy at 120 and 200 keV
      Microscopy, Volume 74(6),December 2025, 411–421, https://doi.org/10.1093/jmicro/dfaf027

著書・解説等

  • 著書
  • 解説

国際会議

  • 招待講演
  • 一般講演
    1. Y. Ishida, T. Ishida, M. Kuwahara, Y. Arai, K. Saitoh
      Performance of Silicon-on-Insulator Pixel Detector with In-pixel Memories for Time Resolved Imaging in Transmission Electron Microscopy
      International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2025 (ICMaSS2025 ),December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    2. Y. Tsuchiya, K. Saitoh
      Three-dimensional Analysis of the Lattice Bending Strain by Iterative Phase Retrieval of Electron Rocking Curves
      ICMaSS2025,December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    3. H. Tamaki, K. Saitoh
      Depth-resolved electron wave eld reconstruction using structured electron beams
      ICMaSS2025,December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    4. T. Miura, R. Usami, T. Takenobu, K. Igarashi, T. Sato, H. Matsumoto, H. Inada, K. Saitoh
      Evaluation of the depth resolution of SE imaging using twisted MoS2
      ICMaSS2025,December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    5. S. Doke, T. Ishida, K. Saitoh
      Observation of LaB6 Thin Film Photocathodes Fabricated by a Pulsed Laser Deposition Method Using Electron Microscopy
      ICMaSS2025,December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    6. S. Kunie, K. Saitoh,
      Development of a program for structural analysis of icosahedral quasicrystals using convergent-beam electron di raction
      ICMaSS2025,December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    7. H. Ishii, F. Labib, R. Tamura, K. Saitoh
      Observation of Fluctuations in Tetrahedral Clusters of Tsai-type Icosahedral Approximants by High-resolution Scanning Transmission Electron Microscopy
      ICMaSS2025 ,December 12-14, 2025, Nagoya University, Nagoya, Japan, Organizing committee of ICMaSS2025, Nagoya Universit
    8. Taisei Kubo
      Observation of local structure in RuX (X = Pnictogen) by using 3D-ΔPDF
      The 2nd International Symposium on Solid State Chemistry, December 1-5, 2025, Shimane,Japan, ISSSC‐2025
    9. T. Ishida, Y. Ishida, M. Kuwahara, Y. Arai, K. Saitoh,
      High-Speed Recordable Direct Electron Detection Cameras Using SOI-CMOS Technology for Dynamical Observation in Transmission Electron Microscopy,
      Microscopy & Microanalysis 2025(M & M 2025), July 27-31, 2025, Microscopy Society of America
    10. Y. Tsuchiya, K. Saitoh,
      Three-dimensional Analysis of the Lattice Bending Strain by Iterative Phase Retrieval of Electron Rocking Curves,
      Microscopy & Microanalysis 2025(M & M 2025), July 27-31, 2025, Salt Palace Convention Center, Salt Lake City, Utah
      Microscopy Society of America
    11. H. Ishii, K. Yoko, T. Kanai, K, Deguchi, F. Labib, R. Tamura, K. Saitoh,
      Observation of Fluctuations in Tetrahedral Clusters of Tsai-type Icosahedral Quasicrystals and Approximants by High-resolution Scanning Transmission Electron Microscopy
      Microscopy & Microanalysis 2025(M & M 2025), July 27-31, 2025, Salt Palace Convention Center, Salt Lake City, Utah
      Microscopy Society of America
    12. Y. Ishida, T. Ishida, M. Kuwahara, Y. Arai, K. Saitoh,
      Low-dose Imaging Using Single-electron Detection with an Integration type SOI Pixel Detector in Transmission Electron Microscopy,
      Microscopy & Microanalysis 2025(M & M 2025), July 27-31, 2025, Salt Palace Convention Center, Salt Lake City, Utah
      Microscopy Society of America
  • その他(座長・司会など)

国内学会

  • 招待講演
    1. 石田 高史
      SOI 技術をもちいた高速電子直接検出器の開発
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    2. 石田高史
      透過電子顕微鏡におけるサブマイクロ秒イメージングに向けたSOI技術に基づく電子直接検出器の開発
      第35回日本MRS年次大会, 2025/11/10-11/12, 北九州国際会議場
      ⽇本MRS
  • 一般講演
    1. 久保泰星、片山 尚幸
      3D-ΔPDF解析によるLiVO2積層不整面の分極秩序の解明
      第39回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム, 2026/1/7-1/9, 東北大学百周年記念会館 川内萩ホール,仙台国際センター 展示棟 
      日本放射光学会
    2. 石井陽稀
      高分解能走査透過電子顕微鏡を用いた蔡型正20面体近似結晶における四面体クラスターの実空間観察と配向相関の評価
      第30回 準結晶研究会, 2025/12/8-12/10, 島根県松江市 松江テルサ
      科研費 学術変⾰領域研究(B) 「超均質⾮周期物質:膨⼤な構造⾃由度の制御による機能開拓」
    3. 國江秋斗
      正二十面体準結晶の収束電子回折シュミレーションプログラムの開発
      第30回 準結晶研究会, 2025/12/8-12/10, 島根県松江市 松江テルサ
      科研費 学術変⾰領域研究(B) 「超均質⾮周期物質:膨⼤な構造⾃由度の制御による機能開拓」
    4. 石田 高史
      SOI 技術をもちいた高速電子直接検出器の開発
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    5. 石田裕一, 石田高史, 桑原真人, 新井康夫, 齋藤晃
      TEMにおけるSOI高速電子検出カメラの開発とその撮像評価
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    6. 土屋嘉之, 齋藤晃
      電子線ロッキングカーブの位相回復による湾曲歪みおよび転位の3次元解析
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    7. 三浦大知, 宇佐美 怜, 竹延大志, 五十嵐 啓介, 佐藤岳志, 松本弘昭, 稲田博美, 齋藤晃
      回転積層したMoS2を用いた2次電子脱出深さの測定
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    8. 國江秋斗, 齋藤晃
      収束電子回折法を用いた正二十面体準結晶の構造解析プログラムの開発
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    9. 石井陽稀, Farid Labib, 田村隆治, 齋藤晃
      高分解能走査透過電子顕微鏡を用いた蔡型正20面体近似結晶における 4 面体クラスターの動的配向と相関の観察
      公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム, 2025/11/13-11/14, 名古屋大学(東山キャンパス)
      公益社団法人 日本顕微鏡学会
    10. 久保 泰星
      3D-ΔPDF解析を利用したLiVO2における積層不整の観測と秩序構造の解明
      第35回日本MRS年次大会, 2025/11/10-11/12, 北九州国際会議場
      ⽇本MRS
    11. ⽯井陽稀, Farid Labib, ⽥村隆治, 齋藤晃
      ⾼分解能⾛査透過電⼦顕微鏡を⽤いた蔡型正20⾯体近似結晶における四⾯体クラスターの配向相関の観察
      ⼀般社団法⼈ ⽇本物理学会 第80回年次⼤会(2025年), 2025/9/16- 9/19, 広島大学(東広島キャンパス), 
      ⼀般社団法⼈ ⽇本物理学会
    12. 玉置央和, 齋藤 晃
      構造化電子ビームを用いた波動場再構成における像歪みの影響と補正
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11,
      福岡国際会議場, 1A_IM-1_14
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    13. 玉置央和, 齋藤 晃
      構造化電子ビームを用いた波動場再構成法によるsub-nm深さ分解の検討
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 1A_IM-1_15
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    14. 玉置央和, 齋藤 晃
      全視野構造化照明をもちいたフレネルタイコグラフィによる電子波動場再構成
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 2A_SS-1_04
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    15. 土屋嘉之, 齋藤 晃
      電子線ロッキングカーブの位相回復による格子変位場解析の空間分解能向上
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3A_IM-1_21
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    16. 石田裕一, 石田高史, 桑原真人, 新井康夫, 齋藤 晃
      時間分解観察のための高速撮影可能な SOI 直接電子検出カメラの開発
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3B_IMB-1_20
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    17. 石井陽稀, 横尾恭真, 金井辰也, 出口和彦, Farid Labib, 田村隆治, 齋藤 晃
      高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型正20面体準結晶および近似結晶の四面体クラスターの揺らぎの観察
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3E_AM-1_14
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    18. 池田昂央, 植松直斗, 平井大悟郎, 竹中康司, 齋藤 晃
      ハイエントロピーアンチモン合金(RuRhPdIr)1-xPtxSbの短距離秩序構造
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3E_AM-1_27
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    19. 三浦大知, 宇佐美 怜, 竹延大志, 五十嵐 啓介, 佐藤岳志, 松本弘昭, 稲田博美, 齋藤 晃
      回転積層したMoS2をもちいた2次電子の脱出深さの測定
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, P3-08
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    20. 石田高史, 石田裕一, 桑原真人, 新井康夫
      透過電子顕微鏡を用いた積分型SOI-CMOSイメージセンサーの電子線検出性能の評価
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, 3B_IMB-1_21
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    21. 渡邉大地, 中根爽太, 石田高史, 桑原真人
      スピン偏極電子における動力学効果を含んだシミュレーション手法開発と 反強磁性ブラッグ散乱への応用
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, P2-73
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    22. 道家 荘太
      走査透過型電子顕微鏡を用いたPLD法で作製されたLaB6薄膜の観察
      日本顕微鏡学会 第81回学術講演会, 2025/6/9-6/11, 福岡国際会議場, P1-24
      公益社団法人日本顕微鏡学会
    • その他(座長・司会など)

      受賞

        1. Yoshiyuki Tsuchiya
          Three-dimensional Analysis of the Lattice Bending Strain by Iterative Phase Retrieval of Electron Rocking Curves
          M&M Student Scholar Award
          Presented on this 28th day of july, 2025
          関連HP
          賞状
        2. Hirokazu Tamaki and Koh Saitoh
          Measurement and correction of TEM image distortion using arbitrary samples
          The Japanese Society of Microscopy Award for the Scientific Paper  (FUNDAMENTALS) in 2025, 2025/6/10
          賞状

       

      その他

      • 特許
      • 新聞発表等