2024年度

論文

  1. K. Saitoh, T. Oyobe, K. Igarashi, T. Sato, H. Matsumoto, H. Inada, T. Endo, Yasumitsu Miyata, R. Usami, T. Takenobu,
    Surface sensitivity of atomic resolution secondary electron imaging,
    Microscopy, 74(1),February 2025, 28-34, .https://doi.org/10.1093/jmicro/dfae041, September 2024
  2. T. Ishida, K. Sugie, T. Miyoshi, Y. Ishida, K. Saitoh, Y. Arai, M. Kuwahara,
    Development of silicon-on-insulator direct electron detector with analog memories in pixels for sub- microsecond imaging
    Microscopy, 73(6), December 2024, 511–516, https://doi.org/10.1093/jmicro/dfae029, December 2024
  3. H. Tamaki, K. Saitoh
    Near-field electron ptychography using full-field structured illumination
    Microscopy, 74(1),February 2025, 10-19, https://doi.org/10.1093/jmicro/dfae035, 25 July 2024
  4. A. Shichi, H. Ishizuka, K. Saitoh,
    Phase retrieval of electron rocking curves using total variation and total squared variation regularizations
    Microscopy, 73(3), June 2024, 262–274, https://doi.org/10.1093/jmicro/dfad048, June 2024
  5. R. Yano, S. Kihara, M. Yoneda, H. T. N. Vu, H. Suto, N. Katayama, T. Yamaguchi, M. Kuwahara, M. Suzuki, K. Saitoh, S. Kashiwaya
    Giant impurity effect on anomalous Hall effect of Mn3Sn
    J. Chem. Phys. 160, 184708 (2024), https://doi.org/10.1063/5.0195211, May 2024

著書・解説等

  • 著書
  • 解説

国際会議

  • 招待講演
    1. Hirokazu Tamaki, Koh Saitoh
      「Wavefield reconstruction using full-field illumination ptychography with a structured electron beam」
      Fifth Japan-Canada Microscopy Societies Joint Symposium, June 3-4, 2024, Richcraft Hall, Carleton University, Ottawa, Ontario, Canada
      Japanese Society of Microscopy and Microscopy Society of Canada
    2. 石田 高史,　杉江 晃成,　石田 裕一,　齋藤 晃,　新井 康夫,　桑原 真人
      「Development of advanced direct electron detection cameras using SOI technology」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会サテライト企画 第3回国際若手シンポジウム, 2024/6/2, 幕張メッセ, 千葉, 1pmB_ISP-01-01
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
  • 一般講演
    1. Koh Saitoh
      「Depth sensitivity of atomic resolution secondary electron imaging」
      European Microscopy Congress 2024, August 25-30, 2024, Center Copenhagen, Center Boulevard 5, 2300　Copenhagen, Denmark
      SCANDEM
  • その他（座長・司会など）

国内学会

  • 招待講演
  • 一般講演
    1. 齋藤　晃
      原子分解能2次電子イメージングの表面敏感性
      2025年（令和７年）第1回研究会, 2025/12/24, 森戸記念館・ハイブリッド開催
      ナノ荷電粒子ビーム産学連携委員会
    2. 石田高史
      SOI 技術を用いた高速撮影可能なダイレクト電子検出器の開発
      2025年（令和７年）第1回研究会, 2025/12/24, 森戸記念館・ハイブリッド開催
      ナノ荷電粒子ビーム産学連携委員会
    3. 石井陽稀
      高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型準結晶の四面体クラスターの揺らぎの動的観察
      第29回準結晶研究会, 2025/1/20−1/22, 大阪大学 豊中キャンパス,
      JST CREST
    4. 池田昂央、平井大悟郎、植松直斗、竹中康司、齋藤 晃
      ナノ結晶FeSによる溶液中Cr(Ⅵ)除去プロセスの解明と生成物の構造解析
      令和6(2024)年度日本結晶学会年会および会員総会, 2024/11/08-11/10, 名古屋大学東山キャンパス, PA-I-10, ポスター
      日本結晶学会
    5. 土屋嘉之、齋藤 晃
      電子線ロッキングカーブの位相回復による湾曲歪みの３次元解析
      令和6(2024)年度日本結晶学会年会および会員総会, 2024/11/08-11/10, 名古屋大学東山キャンパス, OA-II-08
      日本結晶学会
    6. 玉置央和、齋藤 晃
      構造化電子ビームを用いた波動場再構成法の開発
      令和6(2024)年度日本結晶学会年会および会員総会, 2024/11/08-11/10, 名古屋大学東山キャンパス, OA-II-07
      日本結晶学会
    7. 石井陽稀、横尾恭真、金井辰也、 出口和彦、齋藤 晃
      高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型準結晶の四面体クラスターの揺らぎの動的観察
      令和6(2024)年度日本結晶学会年会および会員総会, 2024/11/08-11/10, 名古屋大学東山キャンパス, OA-II-06
      日本結晶学会
    8. 中根爽太, 齋藤 晃, 石田高史, 桑原真人
      スピン偏極電子線を用いたスピン-磁気散乱が及ぼす動力学的効果の検証
      日本顕微鏡学会 第67回シンポジウム, 2024/11/2-11/3, 北海道大学工学部, PM-16, ポスター
      日本顕微鏡学会
    9. 永見洸陽, 長尾全寛, 齋藤 晃, 石田高史, 桑原真人
      レーザー照射による加熱効果の時間分解計測に向けたMoS2熱膨張効果の観察
      日本顕微鏡学会 第67回シンポジウム, 2024/11/2-11/3, 北海道大学工学部, PM-15, ポスター
      日本顕微鏡学会
    10. 金光祐樹,  齋藤 晃
      ベイズ超解像のノイズ除去および解像度向上における入力画像枚数依存性
      日本顕微鏡学会 第67回シンポジウム, 2024/11/2-11/3, 北海道大学工学部, PI-11 , ポスター
      日本顕微鏡学会
    11. 石田高史
      SOI-CMOS技術を用いた高速電子直接検出器の開発
      2024年度日本顕微鏡学会若手シンポジウム, 2024/10/17/-10/18, 九州大学筑紫キャンパス, ポスター
      日本顕微鏡学会
    12. 石田 裕一, 石田 高史, 桑原 真人, 新井 康夫, 齋藤 晃
      SOIピクセル検出器を用いた単電子検出による電子線干渉実験
      第85回応用物理学会秋季学術講演会, 2024/9/16-9/20, 朱鷺メッセ, 新潟, 17p-D63-8
      公益社団法人 応用物理学会
    13. 石田 高史, 石田 裕一, 桑原 真人, 新井 康夫, 齋藤 晃
      SOI技術を用いた高速撮影可能なダイレクト電子検出器の開発
      第85回応用物理学会秋季学術講演会, 2024/9/16-9/20, 朱鷺メッセ, 新潟, 17p-D63-8
      公益社団法人 応用物理学会
    14. 石井陽稀, 横尾恭真, 金井辰也, 出口和彦, 齋藤晃
      高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型準結晶の四面体クラスターの揺らぎの動的観察
      日本物理学会第79回年次大会, 2024/9/16-9/19, 北海道大学, 北海道, 17aWB105-11
      一般社団法人　日本物理学会
    15. 齋藤 晃, 及部 哲平, 五十嵐 啓介, 佐藤 岳志, 松本 弘昭, 稲田 博実, 遠藤 尚彦, 宮田 耕充, 宇佐 美玲, 竹延 大志
      2層MoS2をもちいた原子分解能2次電子イメージングの表面敏感性の検証
      日本物理学会第79回年次大会, 2024/9/16-9/19, 北海道大学, 北海道, 17aWB105-11
      一般社団法人　日本物理学会
    16. 石井 陽稀,　横尾 恭真,　金井 辰也,　出口 和彦,　齋藤 晃
      「高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型準結晶の四面体クラスターの揺らぎの観察」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, P-I_08(ポスター)
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    17. 齋藤 晃,　及部 哲平,　宇佐美 怜,　竹延 大志,　五十嵐 啓介,　佐藤 岳志,　松本 弘昭,　稲田 博実
      「原子分解能2次電子イメージングの表面敏感性」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, 3amF_I-2-06
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    18. 石田 高史,　杉江 晃成,　石田 裕一,　齋藤 晃,　新井 康夫,　桑原 真人
      「サブマイクロ秒時間分解観察のためのSOI直接電子検出器の開発 」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, 3amD_I-8-04
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    19. 金光 祐樹
      「ベイズ超解像をもちいた高分解電子顕微鏡像の解像度向上およびノイズ除去」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, 2pmC_I-7-06
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    20. 池田 昂央,　平井 大悟郎,　植松 直斗,　竹中 康司,　齋藤 晃
      「ハイエントロピー型アンチモン化合物(RuRhPdIr)1-xPtxSbの短距離秩序」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, 2pmH_M-1-08
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    21. 石田 裕一,　石田 高史,　桑原 真人,　新井 康夫,　齋藤 晃
      「透過型電子顕微鏡におけるSOIピクセル検出器INTPIX4のイメージング性能評価」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, 3amD_I-8-05
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    22. 土屋 嘉之,　齋藤 晃
      「電子線ロッキングカーブの位相回復による湾曲歪みの格子変位場の3次元解析」
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会, 2024/6/3-6/5, 幕張メッセ,千葉, P-I_09(ポスター)
      公益社団法人　日本顕微鏡学会
    • その他（座長・司会など）

    受賞

    1. 石井 陽稀
      高分解能走査透過電子顕微鏡による蔡型準結晶の四面体クラスターの揺らぎの動的観察
      第29回準結晶研究会 蔡安邦賞, 2025/1/22
      受賞画像
      関連HP
    2. 石田裕一
      SOIピクセル検出器を用いた単電子検出による電子線干渉実験
      第85回応用物理学会秋季学術講演会 講演奨励賞
      受賞画像
      賞状
      関連HP

    その他

    • 特許
    • 新聞発表等
    Back