2016年度

論文

  1. M. Miura, S. Fujinami, K. Saitoh, N. Tanaka, O. Nakatsuka, S. Zaima,
    "Determination of a 3D Displacement Field at a Vicinity of a GeSn/Ge Interface by the Phse Retrieval of Electron Rocking Curves",
    AMTC Letters, 5 (2016) 46-47.
  2. T. Ishida, T. Tanji, M. Tomita, K, Higuchi, K. Saitoh,
    "In situ Observation of Interfaces between Metal Electrode and Solid Oxide Electrolyte Prepared by FIB",
    AMTC Letters, 5 (2016) 62-63.
  3. H. Nambu, K. Saitoh, M. Uchida,
    "Electron Diffractive imaging using Fork-Shaped Grating Masks",
    AMTC Letters, 5 (2016) 248-249.
  4. S. Nakashima, T. Uchida, K. Doi, K. Saitoh, H. Fujisawa, O. Sakata, Y. Katsuya, N. Tanaka, and M. Shimizu,
    "Strain evolution of epitaxial tetragonal-like BiFeO3 thin films on LaAlO3(001) substrates prepared by sputtering and their bulk photovoltaic effect",
    Japanese Journal of Applied Physics 55 (2016) 101501
  5. M. Kuwahara, Y. Nambo, K. Aoki, K. Sameshima, X. Jin, T. Ujihara, H. Asano, K. Saitoh, Y. Takeda, and N. Tanaka,
    "The Boersch effect in a picosecond pulsed electron beam emitted from a semiconductor photocathode",
    Applied Physics Letters, 109 (2016) 013108
  6. S. Nakashima, T. Uchida, K. Doi, K. Saitoh, H. Fujisawa, O. Sakata, Y. Katsuya, N. Tanaka, M. Shimizu,
    "Strainevolution of epitaxial tetragonal-like BiFeO3 thin films on LaAlO3(001) substrates prepared by sputtering and their bulk photovoltaic effect",
    Japanese Journal of Applied Physics 55 (2016) 101501.
  7. T. Kawasaki, T. Ishida, Y. Takai, Y. Ogawa, M. Tomita, T. Matsutani, T. Kodama, T. Ikuta,
    "Development of Electrostatic Spherical Aberration Corrector using Annular and Circular Electrodes",
    Surface and Interface Analysis, 48 (2016) 1160-1165.

著書・解説等

  • 著書
  • 解説
    1. 齋藤晃、内田正哉
      「軌道角運動量をもつ電子ビーム」
      日本結晶学会誌 58 (2016) 79-84

国際会議

  • 招待講演
    1. M. Kuwahara, K. Aoki, H. Asano, T. Ujihara, N. Tanaka and K. Saitoh,
      "Coherence Volume of Electron Wavepacket Emitted from a Semiconductor Photocathode in a Transmission Electron Microscope",
      Electron Holography Workshop 2017, 2017, 15-17 February, The Center for Exploratory Research, Hitachi Ltd, Saitama, Japan.
    2. T. Ishida,
      "Phase-contrast Imaging in Hollow-cone STEM",
      Analytix 2017, 2017, 24 March, Hilton Fukuoka SeaHawk, Hakata, Japan.
  • 一般公演
    1. M. Miura, S. Fujinami, K. Saitoh, N. Tanaka, O. Nakatsuka, S. Zaima,
      "Determination of a 3D Displacement Field at a Vicinity of a GeSn/Ge Interface by the Phse Retrieval of Electron Rocking Curves ",
      The 5th Internarional Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 2016, 11-13 May. the WINC Aichi, Nagoya, Japan
    2. T. Ishida, T. Tanji, M. Tomita, K, Higuchi, K. Saitoh,
      "In situ Observation of Interfaces between Metal Electrode and Solid Oxide Electrolyte Prepared by FIB",
      The 5th Internarional Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 2016, 11-13 May. the WINC Aichi, Nagoya, Japan
    3. H. Nambu, K. Saitoh, M. Uchida,
      "Electron Diffractive imaging using Fork-Shaped Grating Masks",
      The 5th Internarional Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations, 2016, 11-13 May. the WINC Aichi, Nagoya, Japan
    4. T. Kawasaki, K. Yoshida, T. Ishida, T. Tanji,
      "Visualization of Active Reaction Sites on Gold Nanoparticulate Catalysts",
      11th Asia-Pacific Microscopy Conference, 2016, 25 May, Phuket, Thailand
    5. T. Kawasaki, T. Ishida, T. Kodama, M. Tomita, T. Matsutani, T. Ikuta,
      "Simple and Compact Electrostatic Cscorrector using Annular and Circular Electrodes",
      Microscopy and Microanalysis 2016, 25 July, Columbus, USA
    6. T. Kawasaki, T. Ishida, T. Kodama, T. Tanji, T. Ikuta,
      "STEM Phase Imaging by Annular Pixel Array Detector (A-PAD) combined with Quasi-Bessel Beam",
      Microscopy and Microanalysis 2016, 25 July, Columbus, USA
    7. K. Saitoh, H. Nambu, M, Uchida,
      "Electron Diffractive Imaging Using Fork-Shaped Grating Masks",
      The 16th European Microscopy Congress, 2016, 28 Aug. through 2 Sep. Lyon, France
    8. M. Kuwahara, K. Aoki, H. Suzuki, H. Asano, T. Ujihara, K. Saitoh, N. Tanaka,
      "Coherence of a pulsed electron beam extracted from a semiconductor photocathode in transmission electron microscope",
      The 16th European Microscopy Congress, 2016, 28 Aug. through 2 Sep. Lyon, France
    9. T. Ishida, T. Tanji, M. Tomita, K, Higuchi, K. Saitoh,
      "Development of an in-situ specimen holder for high-voltage eviromental electron microscopy of fuel cells",
      The 16th European Microscopy Congress, 2016, 28 Aug. through 2 Sep. Lyon, France
    10. T. Kawasaki, T. Ishida, T. Kodama, M. Tomita, T. Matsutani, T. Ikuta,
      "Development of a new Electrostatic Cscorrector consisted of Annular and Circular Electrodes",
      The 16th European Microscopy Congress, 2016, 28 Aug. through 2 Sep., Lyon, France
    11. K. Saitoh, M. Miura, N, Tanaka, O. Nakatsuka, S. Zaima,
      "Determination of a 3D Displacement Field at a Vicinity of a GeSn/Ge Interface by the Phase Retrieval of Electron Rocking Curves.",
      The 16th European Microscopy Congress, 2016, 28 Aug. through 2 Sep. Lyon, France

国内学会

  • 招待講演
    1. 桑原真人
      「コヒーレントパルス透過電子顕微鏡の光励起および緩和過程観察への応用」
      日本物理学会2016年秋季大会、2016年9月13日~16日、金沢大学角間キャンパス、金沢市
    2. 桑原真人、青木幸太、鈴木潤士、宇治原徹、齋藤晃、田中信夫
      「半導体光陰極を用いた次世代透過電子顕微鏡の開発」
      第77回応用物理学会秋季学術講演会、2016年9月13日~16日、新潟県 朱鷺メッセ、新潟市
    3. 桑原真人、宇治原徹、田中信夫、齋藤晃
      「半導体光陰極を利用したTEMにおける電子波特性」
      日本顕微鏡学会・電子光学設計技術研究部会 平成28年度研究会、2016年10月8日、名城大学、名古屋市
    4. 桑原真人
      「半導体フォトカソードを用いたパルス透過電子顕微鏡」
      日本顕微鏡学会関西支部・平成28年度特別講演会、2016年10月29日、京都大学宇治キャンパス、宇治市
    5. 桑原真人
      「半導体光陰極を用いた次世代透過電子顕微鏡の開発」
      ナノテスティング学会電子線応用技術研究会第9回研究会、2016年12月2日、日立ハイテクノロジーズ東京本社、東京都港区
    6. 桑原真人, 青木幸太, 宇治原徹, 齋藤晃, 田中信夫
      「NEA光陰極を用いたコヒーレント時間分解TEMの開発」
      真空ナノエレクトロニクス第158委員会 第116回研究会、2017年3月2日~3日、アクトシティ浜松コングレスセンター
    7. 齋藤晃
      「渦電子線の生成と利用」
      SPring-8 ユーザーコミュニティ(SPRUC)研究会、2017年3月16日、関西学院大学梅田キャンパス,大阪市
  • 一般講演
    1. 青木幸太、桑原真人、鈴木潤士、宇治原徹、齋藤晃、田中信夫
      「光陰極平面から放出されるパルス電子線の空間電荷効果」
      日本顕微鏡学会第72回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    2. 石田高史、丹司敬義、富田正弘、樋口公孝、齋藤晃
      「走査透過電子顕微鏡における環状明視野位相再生法による位相像の定量評価」
      日本顕微鏡学会第72回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    3. 齋藤晃、南部裕紀、内田正哉
      「フォーク型回折格子をもちいた電子回折顕微法の位相再生精度」
      日本顕微鏡学会第72回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    4. 齋藤晃、南部裕紀、内田正哉
      「フォーク型回折格子をもちいた収束電子らせん波の形成」
      日本顕微鏡学会第72回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    5. 川﨑忠寛、石田高史、富田正弘、児玉哲司、松谷貴臣、生田孝
      「軸外電場を用いたコンパクト収差補正器の開発」
      日本顕微鏡学会第72 回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    6. 川﨑忠寛、吉田要、石田高史、丹司敬義
      「金ナノ粒子触媒の活性反応サイトの可視化 」
      日本顕微鏡学会第72 回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    7. 川﨑忠寛、石田高史、松谷貴臣、生田孝
      「円環絞りを用いたquasi-Bessel beam によるSTEMイメージング」
      日本顕微鏡学会第72 回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    8. 川崎忠寛、石田高史
      「ホロコーン照明TEM法による軽元素カラムの可視化」
      日本顕微鏡学会第72 回学術講演会、2016年6月14日~16日、仙台国際センター、仙台市
    9. T. Ishida, T. Tanji
      "Development of a heating and electrical baiasing specimen holder for in-situ observation of solid oxide fuel cells"
      The 13th GREEN Symposium,2016年6月22日,NIMS並木地区
    10. 野口雄紀、南部裕紀、齋藤晃、内田正哉
      「非回折性をもつ電子ボルテックスビームの生成」
      日本物理学会2016年秋季大会、2016年9月13日~16日、金沢大学角間キャンパス、金沢市
    11. 川﨑忠寛、石田高史、児玉哲司、松谷貴臣、丹司敬義、生田孝
      「Quasi-Bessel ビームと環状ピクセルディテクタを用いたSTEM 位相再生法の開発」
      第77 回応用物理学会秋季学術講演会、2016 年9月13日~16日、朱鷺メッセ、新潟市
    12. 川﨑忠寛、石田高史、児玉哲司、松谷貴臣、丹司敬義、生田孝
      「Quasi-Bessel ビームと環状ピクセル検出器を用いた位相STEM法」
      第36 回ナノテスティングシンポジウム、2016年11月10日、千里ライフサイエンスセンター、豊中市
    13. 桑原真人, 青木幸太, 南保由人, 宇治原徹, 田中信夫, 齋藤晃
      "Beam properties of picosecond bunched electrons in a time-resolved TEM using a semiconductor photocathode"
      日本顕微鏡学会・超高分解能顕微鏡法分科会 研究会、2017年2月18日~19日、マホロバ・マインズ三浦、三浦市
    14. T. Ishida, T. Owaki, T. Kawasaki, T. Tanji, T. Ikuta, K. Saitoh,
      "Phase Reconstruction using Hollow-cone Illumination and Split Detection in STEM",
      日本顕微鏡学会 超高分解能顕微鏡法分科会 研究会,2017年2月18日~19日,マホロバ・マインズ三浦,三浦市
    15. 川﨑忠寛、石田高史、吉田竜視、加藤丈晴、児玉哲司、富田正弘、生田孝
      「円環・円孔電極を用いた電界型Cs コレクタの開発(4)」
      第64 回応用物理学会春季学術講演会、2017年3月14日、パシフィコ横浜、横浜市

受賞

  1. 青木幸太
    日本化学会東海支部 支部長賞
    「スピン偏極パルス透過電子顕微鏡におけるピコ秒時間分解測定法の開発」
    2017年3月25日

その他

  • 特許
    1. 発明者:桑原真人、田中信夫、宇治原徹、齋藤晃
      名称:反射電子を検出する走査電子顕微鏡
      出願番号:特開2017-004774
      出願日:平成29年1月5日
      出願人:名古屋大学総長
    2. 発明者:桑原真人、田中信夫、宇治原徹、齋藤晃
      名称:スピン偏極電子線のコヒーレンス測定装置と、その利用方法
      出願番号:WO2016/056425
      出願日:平成28年4月14日
      出願人:名古屋大学総長
  • 新聞発表等