2005年度

論文

  1. J. Yamasaki, T. Kawai, and N. Tanaka,
    "A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM",
    Journal of Electron Microscopy, 54(3) (2005) 209-214
  2. J. Yamasaki, H. Sawada, and N. Tanaka,
    "First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM",
    Journal of Electron Microscopy, 54(2) (2005) 123-126.
  3. K. Yoshida, T. Nanbara, J. Yamasaki and N, Tanaka
    "Oxygen release and structural changes in TiO2 films during photocatalytic oxidation"
    Journal of Applied Physics, in print
  4. Y. Nakamura, Y. Nagadomi, S.P. Cho, N. Tanaka, and M. Ichikawa,
    "Formation of strained iron silicide nanodots by Fe deposition on Si nanodots on oxidized Si (111) surfaces",
    Physical Review B72 (2005) 075404
  5. A. Mohite, G.U. Sumanasekera, K. Hirahara, S. Bandow, S. Iijima and B.W. Alphenaar,
    "Photocurrent Spectroscopy of double wall carbon nanotubes",
    Chem. Phys. Lett., 412, (2005) 190-194.

著書・解説等

  • 著書
    1. 田中信夫、「電子エネルギー損失分光法(EELS)」
      ナノマテリアル技術体系－ナノ金属－（フジテクノシステム） 2005年出版、3-1章執筆
    2. 田中信夫、金属ナノ組織解析法（分担執筆）、アグネ社
  • 解説
    1. 田中信夫、「球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上」、
      日本結晶学会誌47, No.1 (2005) 20-25.
    2. 齋藤晃、「HAADF-STEM法による高分解能Zコントラスト像観察」、
      日本結晶学会誌47, (2005) 9.
    3. 山崎順、田中信夫、「半導体界面の電子顕微鏡コンビナトリアル解析」
      材料開発のための顕微鏡法と応用写真集、日本金属学会編 197
    4. 山崎順、田中信夫、「球面収差補正TEM法の材料研究への応用」、
      日本顕微鏡学会和文誌「顕微鏡」 3-6
    5. 田中信夫、「電子顕微鏡を用いたナノ計測金属科学」、
      学術月報、620-623
    6. 田中信夫、「高分解能電子顕微鏡法」、材料開発のための顕微鏡法と応用
      写真集、日本金属学会編 1-6
    7. 平原佳織、「カーボンナノチューブの高分解能電子顕微鏡による評価」，
      ナノカーボンの新展開―世界に挑む日本の先端技術（篠原久典[編]）第９章， （株）化学同人

国際会議

  • 招待講演
    1. N. Tanaka,
      "First Cross-Sectional Analysis of MgO {100} Surfaces by Cs-corrected TEM",
      8th Inter American Congress of Electron Microscopy, Sep.25-30, 2005, Hotel Nacional de Cuba, La Habana, Cuba
    2. N. Tanaka, A. Ohno, K. Yoshida, S. Fukami, M. Makihara, J. Yamasaki, J. Usukura,
      "Cryo-electron tomography of magnetic and catalytic clusters, nanotubes, polymers and human cells",
      8th Inter American Congress of Electron Microscopy, Sep.25-30, 2005, Hotel Nacional de Cuba, La Habana, Cuba
    3. N. Tanaka, J. Yamasaki,
      "Recent development of spherical aberration corrected electron microscopy and its application to studies of nano-structures",
      International Symposium on Application of Quantum Beam 2005, Oct.18-19, 2005, Kobe university
    4. N. Tanaka,
      "Cs-corrected HRTEM and advanced STEM of nano-structures and interfaces ",
      Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis, Oct.20-23, 2005, Peking University, China
  • 一般公演
    1. K. Saitoh, N. Tanaka and A. P. Tsai,
      "Spherical aberration corrected HREM of Al-Ni-Co decagonal quasicrystals",
      International Symposium on Characterization of Real Materials and Real Processing by Transmission Electron Microscopy, Jan. 26-27, 2005, Nagoya University
    2. K. Saitoh and N. Tanaka,
      "Detection of Interstitial Atoms by Hollow-Cone Illumination HAADF-STEM",
      Microscopy & Microanalysis 2005, July, 31-Aug.4, Honolulu, Hawaii.
    3. J. Yamasaki, K. Nakamura, N. Tanaka, H. Sawada, and T. Tomita,
      "First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces by using a spherical aberration corrected TEM",
      International Symposium on Characterization of Real Materials and Real Processing by Transmission Electron Microscopy, Jan. 26-27, 2005, Nagoya University
    4. J. Yamasaki, N. Tanaka, Y. Nakagaki, S. Fukami, and H. Sawada,
      "Cross-sectional observations of surface structures on MgO{100} by Cs-corrected TEM",
      Microscopy and Microanalysis 2005, Aug. 1-4, 2005, Honolulu, Hawaii
    5. J. Yamasaki, M. Makihara, A. Ohno, O. Terasaki, and N. Tanaka,
      "Three dimensional analysis of catalytic platinum supercrystals by transmission electron tomography",
      International Symposium on EcoTopia Science 2005 (ISETS 05), Aug. 8-9, 2005, Nagoya University, Nagoya
    6. S. P. Cho, H. Kunieda and N. Tanaka,
      "In situ Monitoring of growing Ge nanodots on faintly oxidized Si(111) Surfaces",
      International Symposium on Characterization of real materials and real processing by Transmission Electron Microscopy, Jan 26-27, 2005, Nagoya
    7. K. Yoshida, J. Yamasaki and N. Tanaka,
      "Increase of Oxygen Vacancies and change of crystal structures in photo-decomposition process of TiO2 thin films detected in dedicated in-situ TEM",
      International Symposium on Characterization of Real Materials and Real Processing by Transmission Electron Microscopy, Jan. 26-27, 2005, Nagoya University
    8. K. Yoshida, J. Yamasaki, N. Tanaka,
      " Increase of Oxigen Vacancies and Change of Crystal Structures in Photo-Decomposition Process of TiO2 Thin Films Detected in Dedicated In-Situ TEM ",
      International Symposium on EcoTopia Science 2005 (ISETS 05), Aug. 8-9, 2005, Nagoya University, Nagoya
    9. T. Nambara, K. Yoshida, J. Yamasaki, N. Tanaka,
      " Production and Nano Level Structure Analysis ofHigh Purity Rutile TiO2 Thin Films by Pulse LaserDeposition Method ",
      International Symposium on EcoTopia Science 2005 (ISETS 05), Aug. 8-9, 2005, Nagoya University, Nagoya
    10. N. Tanaka, A. Ohno, and J. Yamasaki,
      "Classification of artifacts in 3D-TEM tomography of FePt-MgO crystalline samples studied by multislice image simulation",
      Microscopy & Microanalysis 2005 (2005) Honolulu, Hawaii, Aug.1-4, pp.302-303.
    11. N. Tanaka, J. Yamasaki, Y. Nakagaki, S. Fukami, H. Sawada,
      "First Cross-Sectional Analysis of MgO {100} Surfaces by Cs-corrected TEM",
      8th Inter American Congress of Electron Microscopy (2005) Habana, Cuba, Sep.25-30.
    12. K. Saitoh and N. Tanaka,
      "Detection of Interstitial Atoms by Hollow-Cone Illumination HAADF-STEM",
      Microscopy & Microanalysis 2005 (2005) Honolulu, Hawaii, Aug.1-4, pp.710-711.
    13. K. Saitoh and N. Tanaka,
      "Detection of Interstitial Atoms by Hollow-Cone Illumination HAADF-STEM",
      International Union of Crystallography, 20th Congress and General Assembly (2005) Florence, Italy
    14. K. Yoshida, T. Nanbara, J. Yamasaki, and N. Tanaka,
      "Observation of photo-decomposition process of poly-hydrocarbons on catalytic TiO2 films detected in dedicated in-situ TEM",
      Microscopy & Microanalysis 2005 (2005) Honolulu, Hawaii, Aug.1-4, pp.214-215.

国内学会

  • 招待講演
    1. 田中信夫,
      「球面収差補正TEMの現状と可能性」,
      JST異分野フォーラム, 2005年1月, 伊豆
    2. 山崎順、河合智之、田中信夫，
      「球面収差補正電子顕微鏡における非線形コントラストの低減法」，
      日本物理学会，2005年3月24日～27日 東京理科大
    3. 田中信夫、山崎順,
      「La系酸化物/シリコン界面のHRTEMによる原子構造解析」,
      シンポジウム「来るべきナノCMOS時代に向けての挑戦とその課題」, 2005年4月27日～28日, 早稲田大学、pp.66-67.
    4. 田中信夫,
      「MgO結晶膜中に内包された磁性クラスターの1nm 分解能TEM トモグラフィー 」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IB-01
    5. 田中信夫,
      「Cs 補正TEM の分解能とその応用」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IC-09
    6. 田中信夫、吉田健太、山崎順、
      「UV光入射その場電子顕微鏡法による酸化チタン膜の光触媒反応の研究」、
      精密表面・光触媒セミナー、9月2日、名古屋大学
    7. 田中信夫、
      「収差補正TEMによる半導体界面微細構造の観察」、
      第66回応用物理学会学術講演会、９月７-１１日、徳島大学、徳島、8pZA-4
    8. 田中信夫、
      「先進電子顕微鏡法によるナノ材料研究の新展開～光照射その場観察～」、
      日本顕微鏡学会第50回シンポジウム、2005年10月6日、九州大学、福岡
    9. 山崎順, 田中信夫,
      「球面収差補正TEM法による結晶構造及び表面界面の原子構造解析」
      第１５回格子欠陥フォーラム、2005年9月22日～24日、近江舞子
  • 一般講演
    1. 田中信夫、山崎順、河合智之、藩華勇,
      「球面収差補正TEMによる炭素ナノチューブの原子構造の直接観察」,
      日本物理学会，2005年3月24日～27日, 東京理科大
    2. 田中信夫、山崎順,
      「La系酸化物/シリコン界面のHRTEMによる原子構造解析」,
      シンポジウム「来るべきナノCMOS時代に向けての挑戦とその課題」, 2005年4月27日～28日, 早稲田大学
    3. 齋藤晃、田中信夫、
      「ホローコーンビームHAADF-STEM法による格子間原子検出の可能性 」、
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会、2005年6月1日～3日、 つくば、IIB-12
    4. 齋藤晃、田中信夫、蔡安邦，
      「Al-Ni-Coデカゴナル準結晶の収差補正高分解能TEM観察 」，
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IIIF-06
    5. 齋藤晃，田中信夫，
      「ホローコーンビームHAADF-STEMによる格子間原子検出の可能性II」，
      日本物理学会2005年秋期大会，2005年9月19日～22日, 同志社大学、京田辺、21aYM-8
    6. 齋藤晃，田中信夫，蔡安邦，
      「Al-Ni-Coデカゴナル準結晶の球面収差補正高分解能TEM観察」，
      日本物理学会2005年秋期大会，2005年9月19日～22日, 同志社大学、京田辺、20pYK-14
    7. 齋藤晃，
      「ホローコーンビームをもちいたサイトセレクティブHAADF-STEMの可能性」，
      ナノテクノロジー総合支援プロジェクト その場・高分解能・分析電子顕微鏡による解析支援，2005年11月15日，つくば
    8. 齋藤晃，田中信夫，蔡安邦，
      「Al-Ni-Coデカゴナル準結晶の球面収差補正高分解能TEM観察」，
      2005年準結晶研究会，2005年12月12日～14，柏
    9. 山崎順、 田中信夫、 中垣佳浩、 深見俊輔、 沢田英敬,
      「球面収差補正電子顕微鏡によるMgO{100}表面構造の断面観察 」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IC-11
    10. 山崎順、*河合智之、田中信夫,
      「球面収差補正像における非線形コントラストの低減法」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IIC-06
    11. 山崎順、*中村圭介、田中信夫、沢田英敬,
      「球面収差補正電子顕微鏡による半導体界面極小領域からの制限視野回折法」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、ID-02
    12. 山崎順、 中村圭介、田中信夫
      「球面収差補正制限視野ナノ回折法による半導体界面構造の解析」,
      日本物理学会2005年秋期大会, 2005年9月19日～22日, 同志社大学、京田辺、21aYM-9
    13. 趙星彪、中村芳明、田中信夫、市川昌和,
      「HRTEM によるSi極薄酸化膜を用いたβ-FeSi2ナノドットの構造評価」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IIIJ-06
    14. 趙星彪、国枝大佳、田中信夫,
      「UHV in-situ TEMによるSi 極薄酸化膜上におけるGeナノドットの形成過程に関する研究」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IIE-13
    15. 趙星彪、川野晋司、田中信夫、
      「極薄Si酸化膜を用いたSi(111)表面上でのGeナノドット形成過程のUHV-TEMその場観察(II)」、
      日本物理学会2005年秋期大会、2005年9月19～22日、同志社大学、京田辺、20p-XA-6
    16. 趙星彪、中村芳明、田中信夫、市川昌和、
      「HRTEM によるSi極薄酸化膜を用いたβ-FeSi2ナノドットの構造評価(II)」、
      日本物理学会2005年秋期大会、2005年9月19～22日、同志社大学、京田辺、21a-PS-71
    17. 吉田健太，南原孝啓，山崎 順，田中信夫，
      「格子酸素の消耗による酸化チタンの劣化過程のTEM,EELS 研究」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IIIC-08
    18. 吉田健太、南原孝啓、山崎順、田中信夫,
      「格子酸素の消耗による酸化チタンの劣化過程のTEM,EELS研究」,
      局在量子構造第5回シンポジウム, 2005年3月4日～5日, 京都
    19. 大野暁史、*山崎順、牧原正樹、寺崎治、田中信夫,
      「TEM トモグラフィーによる白金スーパー結晶の三次元構造解析」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日、つくば、p-002
    20. 川野晋司、趙星彪、田中信夫,
      「UHV in-situ HRTEMによるSi超微粒子の成長過程の直接観察」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、P-070
    21. 南原孝啓、吉田健太、山崎順、田中信夫,
      「酸素雰囲気下PLD法による高純度ルチルTiO2薄膜の作製とナノレベル構造解析」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IIIC-07
    22. 牧原正樹、諸根信弘、臼倉治郎、田中信夫,
      「クライオ電子顕微鏡による細胞膜裏打ち構造解析」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、IC-03
    23. 涌井義一, 臼倉治朗, 大野暁史, 田中信夫，
      「極低温電子線トモグラフィー用２軸回転ホルダーの開発」,
      日本顕微鏡学会第６１回学術講演会, 2005年6月1日～3日, つくば、P-079

受賞

  1. 田中信夫, 日本金属学会論文賞「まてりあ論文」
    （透過電子顕微鏡によるその場計測技術と超高分解能観察）

その他

  • 特許
    1. 新聞発表等
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