受賞

石田 高史助教が”The Japanese Society of Microscopy Award for the Scientific Paper(FUNDAMENTALS) in 2023”を受賞されました。(2023/06/27)

受賞タイトル

「Performance of a silicon-on-insulator direct electron detector in a low-voltage transmission electron microscope」

 

石田 高史助教の受賞の様子

受賞一覧は下記URLから

学会各賞規程・授賞者（論文賞・和文誌賞） – 公益社団法人 日本顕微鏡学会 ｜ The Japanese Society of Microscopy

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